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致茂Chroma 3260自动化系统功能测试机

主要特色：

• 可靠的高速Pick&Place分类机
• 同步吸嘴双取及双放设计
• 具备处理QFP的能力
• 简易编辑通讯定义(ECD)功能
• 无测试座损坏的问题
• 浮动头可有效率衡测试压力
• IC残留检测功能
• 发明砖利字号190373, 190377, 1227324 & 125307
• Thermal Control Configurations
  • Tri Temp Control
  • Close-Loop Active Thermal Control (ATC) Module
  • Unity PTC (Passive Thermal Control)
  • Cooling Pipe

Chroma 3260是一款新型的测试机可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。3260可配合多数不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP封装。测试机采用取放的技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC，移动到测试位置，然后将测试后产品放置于适当之Tray盘。

Chroma 3260以并排平行方式，进行测试。在高温下具有自动温度冷却(ATC)功能，其范围从摄氏50度到125度可测试1至6个测试座。

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致茂Chroma 3260自动化系统功能测试机